[发明专利]光子计数CT装置有效
| 申请号： | 201680078044.3 | 申请日： | 2016-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN108472004B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 小岛进一;昆野康隆;渡边史人;高桥勋 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光子计数CT装置，其中，能够收集更准确的数据。设置参考检测部(350)和用于测量X射线照射部(310)的旋转方向的时间波动的时间测量器(345)，使用时间测量器(345)的输出即时间测量数据，对参考检测部(350)的测量数据的旋转方向的时间波动进行校正，使用校正后的参考检测部(350)的测量数据，进行X射线照射部(310)的X射线管(311)的波动和堆积的校正，从而能够进行高精度的数据校正。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 ct 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光子计数CT装置，其特征在于，具备：照射X射线的X射线照射部；检测上述X射线的光子计数方式的X射线检测部；数据收集部，其按照每个预先设定的分区的能量范围，对通过上述X射线检测部检测出的X射线光子进行计数，得到每个上述能量范围的测量信息；参考检测部，其测量从上述X射线照射部照射的X射线的波动；以及时间测量部，其测量上述X射线照射部的旋转方向的时间波动。
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