[发明专利]离子阱质谱分析装置及使用该装置的质谱分析方法

摘要

将源自试样的各种离子捕捉到离子阱内，然后将除具有特定m/z的目标离子之外的不需要的离子从离子阱排出(S1、S2)。然后，通过氢自由基附着解离(HAD)使被捕捉到离子阱内的目标离子发生解离，将由此生成的产物离子从低m/z侧起依次共振激发排出直至即将达到目标离子的m/z为止，将这样的操作重复多次(S3～S7)。用检测器检测被共振激发排出的离子，来取得MS/MS谱数据，将通过多次的共振激发排出所得到的数据进行积分，从而制作最终的MS/MS谱(S5、S8)。HAD的前体离子的解离效率低，但通过针对通过1次的电离生成的目标离子重复多次进行基于HAD的解离操作和共振激发排出操作，能够增大产物离子的量，得到高SN比、且高灵敏度的MS/MS谱。

主权项

1.一种质谱分析方法，使用了离子阱质谱分析装置，所述离子阱质谱分析装置将源自试样的离子捕捉到由多个电极形成的离子阱的内部空间中，通过规定的离子解离方法使该离子解离，将由此得到的产物离子从所述离子阱排出并进行检测，所述质谱分析方法的特征在于，具有如下的步骤：a)离子筛选步骤，将被捕捉到所述离子阱中的离子之中除具有特定质荷比的目标离子之外的离子从该离子阱排出；b)离子解离/排出步骤，重复多次进行如下的离子解离操作和离子排出操作：通过规定的解离方法使通过所述离子筛选步骤而残留于所述离子阱中的所述目标离子解离的离子解离操作、和在该解离操作后将被捕捉到所述离子阱中的离子之中质荷比小于所述目标离子的质荷比的离子边沿质荷比变高的方向从低质荷比侧起或沿其反方向进行质量扫描边排出的离子排出操作；以及，c)质谱制作步骤，根据对在所述离子解离/排出步骤中进行多次离子排出操作时从所述离子阱排出的离子进行检测所得到的结果，制作质谱。