[发明专利]质谱分析装置有效

专利信息
申请号: 201680082852.7 申请日: 2016-02-29
公开(公告)号: CN108780062B 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 芦田刚士 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供质谱分析装置,其具备:前体离子候选选出部(42),其根据质谱数据选出前体离子候选;产物离子扫描测定条件决定部(43),其将前体离子候选与多个断裂能量候选值组合,来设定产物离子扫描测定条件;产物离子谱数据获取部(44),其执行MS/MS测定,来获取产物离子谱数据;化合物数据库文件制作部(45),其制作将产物离子扫描测定条件与产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件;以及MRM测定条件候选制作部(46),其从全部的产物离子谱数据中按照质量峰强度从大到小的顺序提取产物离子,来制作包括产物离子的质荷比、前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的MRM测定条件候选。
搜索关键词: 谱分析 装置
【主权项】:
1.一种质谱分析装置,具备使离子断裂的断裂部和分别位于该断裂部的前级和后级的质量分离部,所述质谱分析装置的特征在于,还具备:a)存储部,其预先保存有与多个化合物中的各个化合物有关的质谱数据;b)前体离子候选选出部,其根据用户的输入指示,针对多个对象化合物中的各个对象化合物,按照预先决定的条件从所述质谱数据中选出一个或多个前体离子候选,所述多个对象化合物为所述多个化合物的一部分或全部;c)产物离子扫描测定条件决定部,其将各个所述前体离子候选与预先决定的多个断裂能量的候选值组合,来设定多个产物离子扫描测定条件;d)产物离子谱数据获取部,其分别执行按照所述多个产物离子扫描测定条件的MS/MS测定,来获取产物离子谱数据;e)化合物数据库文件制作部,其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物,制作将所述产物离子扫描测定条件与在该条件下获取到的所述产物离子谱数据关联起来的化合物数据库文件,并将该化合物数据库文件保存到所述存储部中;以及f)MRM测定条件候选制作部,其针对所述多个对象化合物中的各个对象化合物,从全部的所述产物离子谱数据中按照预先决定的条件提取产物离子,制作包括各产物离子的质荷比、与该产物离子对应的前体离子的质荷比及断裂能量的候选值的多重反应监测测定条件候选即MRM测定条件候选,并将该MRM测定条件候选保存到所述存储部中。
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