[发明专利]间距测量设备有效

专利信息
申请号: 201680085061.X 申请日: 2016-04-29
公开(公告)号: CN109073413B 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: J·弗兰克 申请(专利权)人: TDK-迈克纳斯有限责任公司
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 曾立
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种间距测量设备,其具有两个磁场传感器、永磁体和半导体主体,其中,所述半导体主体具有整体地集成的分析处理电路并且能够借助所述磁场传感器求取差分信号并且提供作为所述求取的结果的输出信号,其中,所述基于无磁通区域的消除的输出信号的值与所述铁磁性探测器至所述两个磁场传感器的间距相关,并且在第一实施方式中,所述半导体主体布置在在X方向上磁化的磁体的U形地构造的极腿之间,其中,所述第一磁场传感器布置在处于所述第一极的两个彼此相对置的腿之间的区域中并且在极腿之间构造底面,并且所述半导体主体在Z方向上布置在所述底部区域上方,或在第二实施方式中,为了在对两个半导体传感器不同强度地作用的第二探测器的情况下测量所述磁通变化的大小,所述永磁体在Z方向上磁化并且所述两个极面中的一个构造在X‑Y平面并且所述磁场传感器沿所述极面布置。
搜索关键词: 间距 测量 设备
【主权项】:
1.间距测量设备(10),具有:第一磁场传感器(34),其中,所述第一磁场传感器(34)提供与磁场强度相关的第一测量信号;至少一个永磁体(20),该永磁体具有带第一极面的第一磁极(24)和带第二极面的第二磁极(28);半导体主体(30),该半导体主体具有整体集成的分析处理电路,其中,所述分析处理电路与所述第一磁场传感器(34)处于电作用连接中并且所述半导体主体(30)具有构造在X‑Y平面中的表面,其特征在于,设置第二磁场传感器(38),该第二磁场传感器基于与所述第一磁场传感器(34)相同的物理工作原理,并且所述第二磁场传感器(38)提供与所述磁场强度相关的第二测量信号,并且所述第二磁场传感器(38)与所述分析处理电路处于作用连接中,并且所述分析处理电路为了抑制稳恒磁场而求取差分信号并且提供输出信号作为所述求取的结果,其中,基于无磁通区域的消除的所述输出信号的值与所述铁磁性探测器相对于所述两个磁场传感器的间距相关,并且所述两个磁场传感器与所述半导体主体的表面力锁合地连接并且为了测量所述磁场的相同分量而相同地布置,并且,在第一实施方式中,为了在第一探测器相同强度地作用到两个半导体传感器(34、38)上的情况下测量磁通变化的大小,所述半导体主体(30)布置在沿X方向磁化的磁体的U形构造的极腿之间,其中,所述第一磁场传感器(34)布置在处于第一极的两个彼此相对置的腿(124、128)之间的区域中,并且所述第二磁场传感器(38)布置在处于第二极的两个彼此相对置的腿(124、128)之间的区域中,并且在所述极腿(124、128)之间构造有底面(130),并且所述半导体主体(30)在Z方向上布置在所述底部区域(130)上方,或者,在第二实施方式中,为了在第二探测器不同强度地作用到两个半导体传感器(34、38)上的情况下测量磁通变化的大小,所述永磁体(20)在Z方向上磁化并且所述两个极面中的一个极面构造在X‑Y平面中并且所述磁场传感器(34、38)沿该一个极面布置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK-迈克纳斯有限责任公司,未经TDK-迈克纳斯有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680085061.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top