[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201680088287.5 申请日: 2016-08-10
公开(公告)号: CN109564876B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 田中亮太;林哲也;倪威;早见泰明 申请(专利权)人: 日产自动车株式会社
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 刘晓迪
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种半导体装置,其具备:栅电极槽,其以与漂移区域、阱区域及源极区域都接触的方式形成;栅电极,其经由绝缘膜而形成于栅电极槽的表面;源电极槽,其与栅电极槽接触;源电极,其与源极区域电连接;栅极配线,其与源电极电绝缘,且以与栅电极接触的方式形成在源电极槽内。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其具备:基板;第一导电型漂移区域,其设置于所述基板的第一主面,杂质浓度比所述基板高;源电极槽,其从所述漂移区域的与所述第一主面相反侧的第二主面起,沿所述第二主面的垂直方向而形成;第二导电型阱区域,其与所述源电极槽的侧面接触,至少一部分形成于所述漂移区域内;第一导电型源极区域,其与所述源电极槽的侧面接触,形成于所述阱区域内;源电极,其与所述源极区域电连接;栅电极槽,其以与所述漂移区域、所述阱区域及所述源极区域接触的方式从所述第二主面起沿所述垂直方向而形成;栅极绝缘膜,其形成于所述栅电极槽的表面;栅电极,其形成于所述栅极绝缘膜的表面;第一导电型漏极区域,其在所述漂移区域内,以远离所述阱区域的方式形成;漏电极,其与所述漏极区域电连接,所述半导体装置的特征在于,所述栅电极槽以与所述源电极槽接触的方式形成,具有栅极配线,所述栅极配线与所述源电极电绝缘,且以与所述栅电极接触的方式形成于所述源电极槽内。
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