[发明专利]质量分析装置以及离子检测装置有效
申请号: | 201680090255.9 | 申请日: | 2016-10-24 |
公开(公告)号: | CN109952629B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 西口克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 平板状的聚焦电极(8)配置为将离子导入至后段的真空室的加热毛细管(9)的入口端(9a)插通开口部(8a),平板状的反射电极(7)配置在隔着从离子化探针(5)喷出的喷雾流而与聚焦电极(8)对置的位置。此外,接地的辅助电极(6)配置在离子化探针(5)与反射电极(7)及聚焦电极(8)之间。加热毛细管(9)接地,在正离子测量时,对反射电极(7)以及聚焦电极(8)施加V1V20的电压V1以及V2。在反射电极(7)与聚焦电极(8)之间的空间形成使随着喷雾流行进的源自试样成分反射以及偏向的反射电场,在入口端(9a)附近形成将离子聚焦至该入口端(9a)的聚焦电场。 | ||
搜索关键词: | 质量 分析 装置 以及 离子 检测 | ||
【主权项】:
1.一种质量分析装置,具有:离子源,包含离子化探针,该离子化探针将液体试样喷雾至大气压气氛下的离子化室内;离子导入部,将在该离子源产生的、源自从所述离子化探针喷雾的试样液滴中所含的成分的离子从所述离子化室向真空室输送,以使来自所述离子化探针的液体试样的喷雾方向与所述离子导入部导入来自所述离子化室内的离子的导入方向正交或者斜交的方式,确定所述离子化探针以及所述离子导入部的配置,其特征在于,该质量分析装置具备:a)聚焦电极,配置为不接触所述离子导入部并包围该离子导入部的导入口周围;b)反射电极,隔着来自所述离子化探针的的试样液滴的喷雾流而配置在与所述离子导入部的导入口以及所述聚焦电极对置的位置;c)用于屏蔽电场的辅助电极,配置在所述离子化探针与所述反射电极及所述聚焦电极之间,设置有开口部,能够供从该离子化探针喷雾的液滴及由此产生的离子通过;d)电压施加部,分别向所述反射电极、所述聚焦电极以及所述离子导入部的导入口施加不同的电压,以形成电场,使通过所述反射电极与所述聚焦电极之间的喷雾流中的离子朝向该聚焦电极、并且从该聚焦电极朝向所述导入口。
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