[发明专利]基板检测用治具

摘要

本发明涉及一种用于倾斜基板检测用接触件的结构简单、并可有效检测基板的基板检测用治具，它包括：包括有用于检测检测基板布线图的前端和通过电极连接于检测装置的后端的接触件；设置于电极上面、形成有用于引导和固定后端而使后端连结于电极的接触件孔的基板；形成有用于引导和固定前端的上板接触件孔的上板，在接触件的前端固定于第一上板及第二上板的上板接触件孔、接触件的后端固定于第一基板接触件孔的状态下，可通过移动第二基板来完成位于空间部内的接触件的倾斜，结构简单。

主权项

1.一种基板检测用治具，它用于支撑多个接触件（100），所述接触件（100）包括接触于检测基板（10）的布线图（12）而检测布线图（12）的前端（110）和通过电极（400）连接于检测装置的后端（120），其特征在于：包括设置于电极（400）上面，并由形成有用于固定于所述电极（400）的固定孔（210）、引导和固定后端（120）而使其连结于电极（400）的接触件孔（220）、用于位置变化的移动孔（230）、用于恢复到原位的整合孔（240）、用于相互排列的排列孔（250）及用于相互结合的结合孔（260）的第一基板（270）、第二基板（280）及第三基板（290）依次叠层而形成的基板（200）；及在支杆（20）作用下相隔设置于基板（200）上方，与基板（200）之间形成有空间部（30），并由形成有用于排列基板（200）的上板排列孔（310）、用于固定于支杆（20）的上板固定孔（320）、用于引导及固定所述前端（110）的上板接触件孔（330）、用于相互结合的上板结合孔（340）的第一上板（350）和第二上板（ 360 ） 依次叠层而形成的上板（300）；所述第二基板（280）的排列孔（250b）直径大于所述第一基板（270）的排列孔（250a）和第三基板（290）的排列孔（250c）的直径，所述第二基板（280）的结合孔（260b）直径大于所述第一基板（270）的结合孔（260a）和所述第三基板（290）的结合孔（260c）的直径，所述第二基板（280）的移动孔（230b）中心与所述第一基板（270）的移动孔（230a）和第三基板（290）的移动孔（230c）的中心相互错开设置。