[发明专利]基于duplex-seq的超低频突变位点检测分析方法有效
申请号: | 201710001346.7 | 申请日: | 2017-01-03 |
公开(公告)号: | CN106599616B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 刘港飚;朱月艳;孙子奎 | 申请(专利权)人: | 上海派森诺医学检验所有限公司 |
主分类号: | G16B20/20 | 分类号: | G16B20/20 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人: | 吕伴 |
地址: | 201799 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开的一种基于duplex‑seq的超低频突变位点检测分析方法,包括如下步骤:1)对原始测序数据质量进行评估,降低数据噪声,为后续分析提供有效数据;2)把随机barcode提取到序列文件的每一条序列的标题行,方便后续对barcode进行快速检索并创建一致性序列;3)根据family barcode和duplex barcode创建一致性序列,排除由于建库过程或者PCR过程中引入的突变;4)根据duplex‑tag构建双链一致性序列,进一步排除序列中的非对称突变位点;5)对比对后的数据进行局部质量矫正,并进行低频变异位点检测;将变异位点进行基因结构、功能、及临床表型三个层次的注释;6)统计SSCS、DCS序列数目、比对结果、变异位点信息,并输出可视化图表。 | ||
搜索关键词: | 基于 duplex seq 低频 突变 检测 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于duplex‑seq的超低频突变位点检测分析方法,其特征在于,包括如下步骤:1)对原始测序数据质量进行评估,降低数据噪声,为后续分析提供有效数据;2)把随机barcode提取到序列文件的每一条序列的标题行,方便后续对barcode进行快速检索并创建一致性序列;3)根据family barcode和duplex barcode创建一致性序列,排除由于建库过程或者PCR过程中引入的突变;4)根据duplex‑tag构建双链一致性序列,进一步排除序列中的非对称突变位点;5)对经过上述步骤处理后的数据进行局部质量矫正,并进行低频变异位点检测;将变异位点进行基因结构、功能、及临床表型三个层次的注释;6)统计SSCS、DCS序列数目、比对结果、变异位点信息,并输出可视化图表;所述步骤3)包括如下步骤:3.1)把步骤(2)中获得的序列,比对到相应的基因组获得比对文件;3.2)获取比对文件中基因组的第一个位点;3.3)对所有比对到步骤3.2)提取的位点上的reads进行flag字段的过滤,对于未比对上的reads则另存为NM文件;其中flag字段为77和141;3.4)对所有通过步骤3.3)过滤后的reads根据duplex‑tag进行排序,并进行分组;3.5)提取步骤3.4)分组中的第一组duplex‑tag及其相关序列;3.6)对步骤3.5)中提取的一组序列根据CIGAR string进一步分组归类,对于含有相同CIGAR string的序列则进行下一步分析,对于不含有共同CIGAR string的序列则另存为LCC文件;3.7)对步骤3.6)中分组的序列,计算其family size,如果family size小于3则丢弃该组序列,通过则进行下一步的分析;3.8)对步骤3.7)中通过的一组序列创建单链一致性序列;对于碱基一致性较高的位点则该位点归一为含量较高的碱基,对于一致性不够好的序列则该位点以N代替;一致性的值根据用户自行定义,设置为70%;3.9)通过3.8)构建的单链一致性序列,过滤掉含有30%以上N的序列,并输出最终合格的序列到单链一致性(SSCS)文件;3.10)创建完SSCS后,如果含有更多的duplex‑tag,则重复上述步骤3.6)‑3.9),如果没有则进入3.11)步骤;3.11)若果还有更多的位点,则重复上述步骤3.3)‑3.10),否则结束该步骤;所述步骤4)包括如下步骤:4.1)将上述步骤3)中获得的单链一致性序列文件转化为sam格式文件,并去除family barcode序列,方便下面创建双链一致性序列;4.2)提取比对文件中的第一个基因组位点信息;4.3)提取步骤4.2)中基因组位点对应的第一个duplex‑tag;4.4)寻找与步骤4.3)中的duplex‑tag进行互补配对的duplex‑tag,如果没有对应的duplex‑tag与其进行匹配则该序列丢弃,如果有匹配的tag则进入步骤4.5);4.5)对含有相同duplex‑tag的序列构建双链一致性序列;4.6)对步骤4.5)创建的双链一致性序列进行过滤,如果序列中含有大量的N则该序列丢弃,否则进入步骤4.7);4.7)输出为双链一致性文件(DCS),并输出对应的配对序列R1、R2;4.8在步骤4.5)创建完双链一致性序列后,如果还有更多的duplex‑tag则重复步骤4.4)‑4.7),如果没有duplex‑tag则进入步骤4.9);4.9)如果还有更多的位点需要分析,则重复步骤4.3)‑4.8);否则结束分析。
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