[发明专利]防止光刻胶剥落的方法在审

专利信息
申请号: 201710004166.4 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN106610569A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 刘善善;吴兵;曹俊 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 刘昌荣
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种防止光刻胶剥落的方法,用于离子注入工艺之后,刻蚀工艺之前,具体包括以下步骤1)对硅基板表面进行处理,将没有覆盖光刻胶的硅基板表面变成亲水性;2)用水处理硅基板表面,使没有覆盖光刻胶的硅基板吸水膨胀;3)对光刻胶进行固化处理。本发明通过在离子注入后,先用ASH plasma处理硅基板表面,将裸露的硅基板表面变成亲水性,再用水处理硅基板表面,使裸露的硅基板吸水膨胀,如此抵消了UVC固化时,胶体收缩产生的应力,从而避免了光刻胶在刻蚀的时候与硅基板发生剥离,保证了刻蚀能够获得良好的图形。
搜索关键词: 防止 光刻 剥落 方法
【主权项】:
一种防止光刻胶剥落的方法,用于离子注入工艺之后,刻蚀工艺之前,其特征在于,包括以下步骤:1)对硅基板表面进行处理,将没有覆盖光刻胶的硅基板表面变成亲水性;2)用水处理硅基板表面,使没有覆盖光刻胶的硅基板吸水膨胀;3)对光刻胶进行固化处理。
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