[发明专利]一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法和装置

摘要

本发明公开了一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法和装置，包括设置透射探测光路和反射探测光路；放置参考样板，使得太赫兹脉冲波以45°入射到参考样板，被参考样板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器，得第二参考信号；撤去参考样板，太赫兹脉冲波直接输出至透射探测光路中的第一探测器，得第一参考信号；放置待测材料板，使得太赫兹脉冲波以45°入射到待测材料板，第一、二探测器分别得到透射信号和反射信号；根据得到的四个信号，计算得到待测材料板的透射系数、反射系数和所需的电磁参数。使用本发明的方法和装置，可在同一太赫兹脉冲下同步完成同一样品的反射系数、透射系数的同步测量与数据采集。

主权项

一种太赫兹频段同步测量材料透波反射特性的方法，其特征在于，该方法包括：设置一个用于测量透射系数的透射探测光路和一个用于测量反射系数的反射探测光路；在材料板支架上放置参考样板，使得太赫兹脉冲波以45度角斜入射到参考样板，并使得被参考样板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器；撤去参考样板，使得太赫兹脉冲波直接输出至透射探测光路中的第一探测器；第一探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为第一参考信号，第二探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为第二参考信号；在材料板支架上放置待测材料板，使得太赫兹脉冲波以45度角斜入射到待测材料板，并使得被待测材料板透射的太赫兹脉冲波输出至透射探测光路中的第一探测器，同时使得被待测材料板反射的太赫兹脉冲波输出至反射探测光路中的第二探测器；第一探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为透射信号，第二探测器将接收到的太赫兹脉冲波转换为反射信号；根据所述透射信号、反射信号、第一参考信号和第二参考信号，计算得到待测材料板的透射系数、反射系数和所需的电磁参数。