[发明专利]针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法有效

专利信息
申请号: 201710005111.5 申请日: 2017-01-04
公开(公告)号: CN106653098B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 段光生;唐飞;孙冠男 申请(专利权)人: 盛科网络(苏州)有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,包括:分配逻辑和CPU对存储器操作的地址,分配的地址不超过所述存储器的地址边界,且逻辑操作的地址与CPU操作的地址互不相同;发送一定数量的激励,进行模拟仿真测试,并在测试期间监测对所述存储器操作的正确性。采用本发明可以测试逻辑和CPU同时读写存储器的正确性,并且验证仲裁逻辑的正确性,降低芯片二次投片的风险,节省了经济费用。
搜索关键词: 针对 逻辑 cpu 均可 读写 存储器 测试 方法
【主权项】:
一种针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于:分配逻辑和CPU对存储器操作的地址,分配的地址不超过所述存储器的地址边界,且逻辑操作的地址与CPU操作的地址互不相同;发送一定数量的激励,进行模拟仿真测试,并在测试期间监测对所述存储器操作的正确性。
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