[发明专利]针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法有效
申请号: | 201710005111.5 | 申请日: | 2017-01-04 |
公开(公告)号: | CN106653098B | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 段光生;唐飞;孙冠男 | 申请(专利权)人: | 盛科网络(苏州)有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,包括:分配逻辑和CPU对存储器操作的地址,分配的地址不超过所述存储器的地址边界,且逻辑操作的地址与CPU操作的地址互不相同;发送一定数量的激励,进行模拟仿真测试,并在测试期间监测对所述存储器操作的正确性。采用本发明可以测试逻辑和CPU同时读写存储器的正确性,并且验证仲裁逻辑的正确性,降低芯片二次投片的风险,节省了经济费用。 | ||
搜索关键词: | 针对 逻辑 cpu 均可 读写 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种针对逻辑和CPU均可读写存储器的测试方法,其特征在于:分配逻辑和CPU对存储器操作的地址,分配的地址不超过所述存储器的地址边界,且逻辑操作的地址与CPU操作的地址互不相同;发送一定数量的激励,进行模拟仿真测试,并在测试期间监测对所述存储器操作的正确性。
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