[发明专利]用于测试天线阵列的系统和方法有效
| 申请号： | 201710011102.7 | 申请日： | 2017-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN107919922B | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | 科比特·罗威尔;昂德里克·巴尔特科;亚当·坦凯伦 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12;H04B17/10;H04B17/364 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;何月华 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于测试天线阵列的系统和方法。一种用于测试和/或校准天线阵列(4)的系统(100)，该系统(100)包括：被测设备(1)，该被测设备(1)包括天线阵列(4)和用于在至少两个信号路径中的每一者上发送测试信号的至少一个有源射频设备(6a、6b、6c、6d)，该测试信号是已知的且总是相同的；以及测量设备(2)，该测量设备(2)包括用于在至少两个信号路径中的每一者上接收测试信号的至少一个探针(3)。该测试信号是不可重复的测试信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 天线 阵列 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试和/或校准天线阵列(4)的系统(100)，所述系统(100)包括：被测设备(1)，所述被测设备(1)包括所述天线阵列(4)和用于在至少两个信号路径中的每一者上发送测试信号(20、30)的至少一个有源射频设备(6a、6b、6c、6d)，所述测试信号(20、30)是已知的且总是相同的或部分相同的，以及测量设备(2)，所述测量设备(2)包括用于在所述至少两个信号路径中的每一者上接收所述测试信号(20、30)的至少一个探针(3)，其中，所述测试信号(20、30)在测试和/或校准的时间内是不可重复的测试信号。
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