[发明专利]料位测量设备

摘要

本发明描述了一种料位测量设备，用于测量产品的料位，从而允许防止可能最终损害信号的发送和/或接收的沉积物堆积，其包括：安装装置，该安装装置用于将所述测量设备安装在测量位置；天线，该天线包括用于向产品发送微波信号和/或用于接收由所发送的微波信号的反射产生的回波信号的电介质天线元件以及测量电子器件，该测量电子器件用于基于微波信号行进到产品的表面以及其回波信号返回到设备所需的渡越时间确定产品的料位。就此而言，根据本发明的测量设备包括覆盖所述电介质天线元件的盖和预知用于清洁所述盖的清洁工具，该清洁工具当其启动时致使所述盖振动。

主权项

1.料位测量设备，用于测量产品（1）的料位（L），包括：/n-安装装置（3），所述安装装置（3）用于将所述测量设备安装在测量位置，/n-天线（9），所述天线（9）包括用于向所述产品（1）发送微波信号和/或用于接收由所发送的微波信号的反射产生的回波信号（R）的电介质天线元件（11），以及/n-测量电子器件（15），所述测量电子器件（15）用于基于所述微波信号行进到所述产品（1）的表面以及其回波信号返回到所述设备所需的渡越时间确定所述产品（1）的所述料位（L），/n其特征在于，/n-所述设备进一步包括盖（25），所述盖（25）覆盖所述电介质天线元件（11），以及/n-清洁装置（27），所述清洁装置（27）预知用于清洁所述盖（25），当所述清洁装置（27）启动时，其致使所述盖（25）的与信号传输路径间隔开的侧壁部分（41）振动。/n