[发明专利]一种蓝牙集成电路测试系统和测试方法有效

专利信息
申请号: 201710016097.9 申请日: 2017-01-10
公开(公告)号: CN106841980B 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 廖毅;张涌 申请(专利权)人: 芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司;芯原控股有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种蓝牙集成电路晶圆级测试系统和测试方法。本发明的测试系统包括:自动测试模块、无线电测试模块和射频探针卡。本发明的测试系统可以利用经济型ATE作为所述自动测试模块,利用外挂通用无线电测试仪作为所述无线电测试模块进行信号发射和测量,适用于晶圆级的蓝牙集成电路测试,进一步还可推广到完成封装后的蓝牙集成电路测试以及其他类型的射频集成电路晶圆级和封装后的量产测试。本发明提出的测试方法以功能测试为主,克服晶圆测试探针卡阻抗匹配比较差的缺陷实现了晶圆级别的射频测试,结合并行技术,同时利用经济型ATE完成整个量产测试,降低芯片测试成本。
搜索关键词: 一种 蓝牙 集成电路 测试 系统 方法
【主权项】:
一种蓝牙集成电路测试系统,其特征在于,包括:自动测试模块、无线电测试模块和射频探针卡;所述自动测试模块与所述无线电测试模块连接,控制所述无线电测试模块调制并发射符合预设要求的蓝牙调制波,或接收所述无线电测试模块检测到的射频载波的中心频率及发射功率;所述无线电测试模块与所述射频探针卡连接,通过所述射频探针卡向待测蓝牙集成电路发射蓝牙调制波,或通过所述射频探针卡接收待测蓝牙集成电路发射的射频载波,并检测所述射频载波的中心频率及发射功率;所述射频探针卡与待测蓝牙集成电路连接;所述自动测试模块与所述射频探针卡连接,通过所述射频探针卡与待测蓝牙集成电路通信,控制待测蓝牙集成电路接收蓝牙调制波并解调成为基带信号,并接收所述基带信号,或者控制待测蓝牙集成电路根据预设的中心频率和发射功率发射射频载波;所述自动测试模块根据接收到的基带信号进行运算并判断待测蓝牙集成电路的接收性能是否满足要求,或者根据接收到的射频载波的中心频率及发射功率判断待测蓝牙集成电路的发射性能是否满足要求。
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