[发明专利]一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法有效
申请号: | 201710017153.0 | 申请日: | 2017-01-11 |
公开(公告)号: | CN106707327B | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
发明(设计)人: | 任宽;刘慎业;侯立飞;杜华冰;景龙飞;赵阳;杨志文;韦敏习;邓克立;姚立;詹夏宇;李晋;杨国洪;李三伟;江少恩;董建军;曹柱荣;丁永坤 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01T1/28 | 分类号: | G01T1/28 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提供了一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法,所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器,X射线成像器件位于瞄准透镜中心,且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同;所述的调校方法:将装调用靶中心、X射线成像器件中心和探测器记录面中心放到直线Ⅰ上;调节四维调节机构使装调用靶的可见光像中心与探测器记录面中心重合,且确保X射线成像器件中心仍在直线Ⅰ上。所述的应用方法:整体调整瞄准透镜像与探测器记录面位置关系,实现应用。本发明能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准,简单方便,将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%,具有广阔应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 射线 成像 器件 瞄准 装置 及其 调校 方法 应用 | ||
【主权项】:
一种X射线成像器件的瞄准装置,其特征在于,所述的瞄准装置包括X射线成像器件(2)、瞄准透镜(3)、可调光阑(4)、支撑机构(5)、四维调节机构(6)和监视器(7);所述的支撑机构(5)为水平放置的圆筒,瞄准透镜(3)竖直卡在圆筒中,X射线成像器件(2)位于瞄准透镜(3)的中心;所述的可调光阑(4)为圆环形,放置在瞄准透镜(3)前端,并与支撑机构(5)固连;所述的支撑机构(5)与四维调节机构(6)连接,四维调节机构(6)通过支撑机构(5)调节瞄准透镜(3)的位置和瞄准透镜(3)的光学指向;所述的瞄准透镜(3)的中心、可调光阑(4)的中心、支撑机构(5)的中心和四维调节机构(6)的中心在同一条直线上;靶(1)发射的可见光线通过打开状态的可调光阑(4)入射至瞄准透镜(3),在探测器记录面(8)上成像为像Ⅰ;靶(1)发射的X射线通过关闭状态的可调光阑(4)入射至X射线成像器件(2),在探测器记录面(8)上成像为像Ⅱ;像Ⅰ和像Ⅱ在探测器记录面(8)上重合;所述的监视器(7)实时监视像Ⅰ在探测器记录面(8)上的位置。
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