[发明专利]用于测试光电器件的方法及装置有效
| 申请号： | 201710020015.8 | 申请日： | 2012-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN106641888B | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | A·沃尔坦;G·切莱雷;G·梅内盖索;M·梅内吉尼;D·巴尔比桑;E·扎诺利 | 申请（专利权）人： | 应用材料意大利有限公司 |
| 主分类号： | F21S8/00 | 分类号： | F21S8/00;H02S50/10;G01R31/40 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 装置(10)用于仿真太阳辐射的光谱以及测试使用所述仿真的太阳辐射光谱(15)的光电器件(17)。所述装置(10)包含光源器件以及基板支座(16)，其中光源器件配置成再生太阳辐射的光谱(15)且包含被划分成多个单元的辐射板(13)，且每一个单元包含多个发光二极管，所述发光二极管发射至少两种不同波长，其中基板支座(16)设置于与光源器件相对。在一个示例中，多个发光二极管发射一种波长，所述波长从以下波长所组成的群组中选出：蓝、绿、黄、红、以及在红外光范围中彼此具有不同波长的第一色与第二色。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 光电 器件 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测试光电器件的装置，包含：光源器件，所述光源器件配置成再生太阳辐射的光谱，所述光源器件包含辐射板，所述辐射板被划分成多个单元，且所述多个单元中的每一个包含多个发光二极管，所述多个发光二极管发射至少两种不同波长；基板支座，所述基板支座设置成与所述光源器件相对；一个或更多个传感器，所述传感器设置为接近所述基板支座以检测所述辐射板所发射出的辐射；以及控制系统，所述控制系统与所述一个或更多个传感器相连接且所述控制系统适于接收与所述光谱相关联的信息，所述光谱由所述辐射板随时间发射出，且所述控制系统调整发射参数以至少将波动最小化且在空间上使所述辐射板所发射出的辐射均匀化。
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