[发明专利]一种GaN基发光二极管外延片的制备方法有效

专利信息
申请号: 201710021557.7 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN106887492B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 李红丽;胡加辉 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省金华市义*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种GaN基发光二极管外延片的制备方法,属于半导体技术领域。包括:在衬底上生长缓冲层;在所述缓冲层上生长未掺杂GaN层;在所述未掺杂GaN层上生长N型GaN层;先依次进行多个阶段的降温,再生长应力释放层;所述应力释放层包括依次生长的第一GaN垒层、由交替层叠的InGaN层和GaN层组成的超晶格阱层、第二GaN垒层;各个所述阶段的温度保持不变,多个所述阶段的温度依次降低,相邻两个所述阶段的温度的降低速率不超过设定值;在所述应力释放层上生长多量子阱层;在所述多量子阱层上生长P型电子阻挡层;在所述P型电子阻挡层上生长P型GaN层。本发明可以改善外延片的翘曲度,降低外延片的晶格缺陷。
搜索关键词: 一种 gan 发光二极管 外延 制备 方法
【主权项】:
1.一种GaN基发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:在衬底上生长缓冲层;在所述缓冲层上生长未掺杂GaN层;在所述未掺杂GaN层上生长N型GaN层;先依次进行多个阶段的降温,再生长应力释放层;所述应力释放层包括依次生长的第一GaN垒层、由交替层叠的InGaN层和GaN层组成的超晶格阱层、第二GaN垒层;各个所述阶段的温度保持不变,多个所述阶段的温度依次降低,相邻两个所述阶段的温度的降低速率不超过设定值;在所述应力释放层上生长多量子阱层;在所述多量子阱层上生长P型电子阻挡层;在所述P型电子阻挡层上生长P型GaN层;所述第一GaN垒层的生长压力高于所述第二GaN垒层的生长压力。
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