[发明专利]一种锑硒硫合金薄膜的制备方法在审
申请号: | 201710022776.7 | 申请日: | 2017-01-12 |
公开(公告)号: | CN108300965A | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 唐江;薛丁江;陈洁;刘新胜 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | C23C14/14 | 分类号: | C23C14/14 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种锑硒硫合金薄膜的制备方法,属于半导体光电材料及薄膜制备方法,解决现有锑硒硫合金薄膜的掺杂深度不够、掺杂后导致晶格缺陷及设备要求过高的问题。本发明包括掺杂步骤和制备薄膜步骤,直接将所需的掺杂元素的单质、硒化物或者硫化物与锑硒硫合金粉末混合烧结,得到掺杂的锑硒硫合金粉末,不仅可以根据掺杂浓度的要求改变掺杂元素在锑硒硫合金粉末中的含量比例,而且可以同时掺入多种元素,更加精确的控制掺杂浓度及掺杂类型;运用掺杂的锑硒硫合金粉末,制备高电导率的锑硒硫合金薄膜,具有更加均匀的掺杂浓度,不需要额外的退火工艺即可得到符合要求的掺杂效果,晶体结构缺陷小于传统掺杂方法,而且对设备的要求更低。 | ||
搜索关键词: | 锑硒 掺杂 合金薄膜 合金粉末 制备 掺杂元素 掺杂的 半导体光电材料 晶体结构缺陷 硫化物 薄膜步骤 薄膜制备 掺杂类型 高电导率 混合烧结 晶格缺陷 设备要求 退火工艺 对设备 硒化物 掺入 单质 | ||
【主权项】:
1.一种锑硒硫合金薄膜制备方法,包括掺杂步骤和制备薄膜步骤,其特征在于:(1)掺杂步骤:按照摩尔比1:100~1:1000000,将掺杂元素掺入Sb2(Sex,S1‑x)3合金粉末中,混合均匀并烧结,形成掺杂粉末;其中x为阴离子中Se的摩尔分数,1‑x为阴离子中S的摩尔分数,0≤x≤1;所述掺杂元素为下述三类组分中的一类或多类:(1.1)I、Sn、Zn、Ca、Na、K元素的单质中的一种或多种;(1.2)上述元素的硒化物;(1.3)上述元素的硫化物;掺杂元素中,不包括同一元素的单质和该元素的硒化物、同一元素的单质和该元素的硫化物、以及同一元素的硒化物和硫化物;(2)制备薄膜步骤:将所述掺杂粉末作为前驱体,利用磁控溅射、电子束蒸发、热蒸发或近空间升华方法,制备掺杂的锑硒硫合金薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710022776.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电镀渐变色的方法
- 下一篇:用于涂覆工件的设备和方法
- 同类专利
- 专利分类