[发明专利]栅格图像处理器的测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710023309.6 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN107566826B 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 王剑;谢浩;朱暄;孟张伟 申请(专利权)人: 北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;刘芳
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种栅格图像处理器的测试方法及装置。该方法包括:获取测试策略参数和测试样例集;采用目标栅格图像处理器、基准栅格图像处理器对应生成测试样例集中的各测试样例的目标图像、基准图像;计算目标图像的目标分块特征向量及基准图像的基准分块特征向量;将目标分块特征向量和对应的基准分块特征向量进行对比;若目标分块特征向量和对应的基准分块特征向量不同,则根据测试策略参数将目标图像和基准图像进行对比;若目标图像和基准图像不满足测试策略参数,则计算目标图像与基准图像的差异图像;若测试样例集中差异图像的个数大于或等于预设阈值,则确定目标栅格图像处理器未通过测试。实现了对栅格图像处理器的自动化测试。
搜索关键词: 栅格 图像 处理器 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种栅格图像处理器的测试方法,其特征在于,包括:获取测试策略参数和测试样例集;采用目标栅格图像处理器、基准栅格图像处理器对应生成所述测试样例集中的各测试样例的目标图像、基准图像;计算所述目标图像的目标分块特征向量及所述基准图像的基准分块特征向量;将所述目标分块特征向量和对应的基准分块特征向量进行对比;若所述目标分块特征向量和对应的基准分块特征向量不同,则根据所述测试策略参数将所述目标图像和所述基准图像进行对比;若所述目标图像和所述基准图像不满足测试策略参数,则计算所述目标图像与所述基准图像的差异图像;若所述测试样例集中差异图像的个数大于或等于预设阈值,则确定所述目标栅格图像处理器未通过测试;其中,所述计算所述目标图像的目标分块特征向量及所述基准图像的基准分块特征向量,具体包括:获取所述目标图像、基准图像的宽度和高度,分别计算所述目标图像、所述基准图像的分块数,所述目标图像的每个分块为目标分块图像,所述基准图像的每个分块为基准分块图像;依次计算每个目标分块图像、每个基准分块图像的特征码,形成目标分块特征码、基准分块特征码;根据每个目标分块特征码生成目标分块特征向量,并根据每个基准分块特征码生成基准分块特征向量。
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