[发明专利]应用于超声探头的Q帧T孔径复合发射成像方法及系统有效
申请号: | 201710024988.9 | 申请日: | 2017-01-13 |
公开(公告)号: | CN106859695B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 吴方刚;郭建军 | 申请(专利权)人: | 飞依诺科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | A61B8/00 | 分类号: | A61B8/00 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 苏婷婷 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种应用于超声探头的Q帧T孔径复合发射成像方法及系统,所述方法包括:为每个侧向发射孔径均对应设置一个扫查线组,以任一扫查线组为基础扫查线组,将其他扫查线组插入到基础扫查线组中,以形成对应当前扫查图像的最终扫查线;逐线扫描各个超声扫查线,获取每条超声扫查线对应的扫查线数据;扫描过程中,对应每条超声扫查线均采用其所在扫查线组对应的侧向发射孔径进行扫查;将各个扫查线数据转换为原始图像数据;对所述原始图像数据沿所述最终扫查线的扫描方向做X阶平滑滤波,以获得最终的图像。本发明在不损失帧频的前提下,解决1.25维、1.5维和1.75维探头发射端侧向声束近中远场的声束宽度不均匀的问题,提高超声图像质量。 | ||
搜索关键词: | 应用于 超声 探头 孔径 复合 发射 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种应用于超声探头的Q帧T孔径复合发射成像方法,其特征在于,所述Q取值为1,所述T为大于等于2的正整数;所述方法包括以下步骤:S1、获取发射端的侧向发射孔径的数量及大小;S2、为每个侧向发射孔径均对应设置一个扫查线组,每个扫查线组中的超声扫查线数量相同;S3、以任一扫查线组为基础扫查线组,将其他扫查线组插入到基础扫查线组中,以形成对应当前扫查图像的最终扫查线;S4、按照所述最终扫查线的排布顺序逐线扫描各个超声扫查线,获取每条超声扫查线对应的扫查线数据;扫描过程中,对应每条超声扫查线均采用其所在扫查线组对应的侧向发射孔径进行扫查;S5、将各个扫查线数据转换为原始图像数据;S6、对所述原始图像数据沿所述最终扫查线的扫描方向做X阶平滑滤波,以获得最终的图像,其中,2≤X≤2T。
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