[发明专利]一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置及方法在审
| 申请号： | 201710027943.7 | 申请日： | 2017-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN106768900A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 王涵;吴昊;周剑秋 | 申请（专利权）人： | 南京工业大学 |
| 主分类号： | G01M11/04 | 分类号： | G01M11/04 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 | 代理人： | 徐激波 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置及方法，包括傅里叶转换红外光谱分析仪、偏振分析器、磁铁磁极、试样放置台、光源发射器、光束收集器和全反射棱镜等，所述光源发射器发射测量所需波长或波段的探测光束，探测光束经过全反射棱镜射向位于两块磁铁磁极所产生磁场中的试样，利用反射棱镜分别将经过试样的透射光束和反射光束依次导向分光分度机和偏振分析器，进行光束场强与偏振态分析，之后两束光分别进入傅里叶转换红外光谱分析仪进行分析，最后利用计算机程序计算光学参数并输出。本发明解决了现有对研究磁光材料光学性能的具体研究的缺乏，促进磁光材料在各领域的应用发展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 材料 光学 参数 试验 系统 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：包括两个电磁铁（1）、傅里叶转换红外光谱分析仪（2）、两个光束收集器（3）、两个偏振分析仪（4）、两个分光光度计（5）、试样放置台（6）、全反射棱镜（7）、光源发射器（8）和空气调节器（9）；所述试样放置台（6）安装有可旋转的固定装置，固定装置上放置有试样，试样两侧分别设有电磁铁（1），试样位于电磁铁（1）所产生的平行磁场中；所述光源发射器（8）发射探测光束，经过全反射棱镜（7）射向试样，经过试样的透射光束和反射光束分别依次导向分光光度计（5）、偏振分析仪（4）、傅里叶转换红外光谱分析仪（2）外接的光束收集器（3）；上述试验测量系统装置均设置在封闭空间内，并通过空气调节器（9）调节环境温度，所述傅里叶转换红外光谱分析仪（2）的输出端连接处理计算机。
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