[发明专利]基于平面波电磁测深的静态效应校正方法有效
| 申请号： | 201710029301.0 | 申请日： | 2017-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN106646666B | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 席振铢;李国瑞;龙霞;黄龙;周胜;侯海涛;宋刚;陈兴朋;薛军平;亓庆新;王亮;肖炜;韦洪兰;王鹤;边祥会;董志强;潘继敏;范福来;席贝格;董轩铭 | 申请（专利权）人： | 中南大学;湖南五维地质科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V13/00 | 分类号： | G01V13/00 |
| 代理公司： | 长沙永星专利商标事务所(普通合伙) 43001 | 代理人： | 周咏;米中业 |
| 地址： | 410083 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，包括在电磁测深点测量电极两侧延长线上供以直流电且供电极距不小于三倍的测量极距；记录电压稳定时的测量点A的电压值U；停止直流供电并记录断电后积累电荷产生的电压U2；计算静态校正系数k；对静态效应进行校正。本发明提供的这种基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，通过在测量电极两侧延长线上供以直流电的方式，采用直接测量总电场和积累电场的方式对平面波大地电磁测深中的静态效应进行直接修正，因此校正精度高，而且测量直接，方法简单可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 平面波 电磁 测深 静态 效应 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，包括如下步骤：S1.测量前，在电磁测深点测量电极两侧延长线上供以直流电，所述供以直流电时供电极距不小于三倍的测量极距；S2.在直流供电时，记录电压稳定时的测量点A的电压值U；S3.在步骤S2记录到稳定电压值U后停止直流供电，并记录断电后积累电荷产生的电压U2；S4.采用如下公式计算静态校正系数k：k＝U2/(U‑U2)S5.利用步骤S4得到的静态校正系数k，采用如下公式对静态效应进行校正：Ec＝Em/(1+k)式中Ec为校正静态效应后的电场值，Em为基于平面波电磁测深时直接测量得到的电场值。
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