[发明专利]多个发射天线的相位校准设备在审

专利信息
申请号: 201710029598.0 申请日: 2017-01-16
公开(公告)号: CN107085203A 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 新井知广 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 陈松涛,韩宏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一种相位校准设备中,第一集成电路(2a、202a、402a、502a)输出用于生成第一发射天线(3a、403b、603a)的发射波的发射信号,第二集成电路(2b、202b、402b、402c、502b)输出用于生成第二发射天线(3b、403c、603b)的发射波的发射信号,校准接收天线(4、204、304、404a、404b、504、604、704)被设置为在接收第一发射天线和第二发射天线的发射波时处于电耦合量在理论上相同的状态,接收电路(5)从校准接收天线获取接收信号,以及控制电路(6)在第一集成电路和第二集成电路向第一发射天线和第二发射天线输出发射信号时基于接收电路的接收信号的振幅来校准发射信号的相位。
搜索关键词: 发射 天线 相位 校准 设备
【主权项】:
一种相位校准设备,包括:多个发射天线(3a‑3h、403a‑403f、603a‑603h),所述多个发射天线(3a‑3h、403a‑403f、603a‑603h)被设置为使得能够使用波束形成技术来改变发射波的方向,所述多个发射天线包括第一发射天线(3a、403b、603a)以及与所述第一发射天线不同的第二发射天线(3b、403c、603b);第一集成电路(2a、202a、402a、502a),所述第一集成电路在接收到参考信号后使用所述参考信号来输出用于生成所述第一发射天线的发射波的发射信号;第二集成电路(2b、202b、402b、402c、502b),所述第二集成电路连接到所述第一集成电路,从所述第一集成电路接收参考信号,并且输出用于生成所述第二发射天线的发射波的发射信号;校准接收天线(4、204、304、404a、404b、504、604、704),所述校准接收天线被设置为当接收所述第一发射天线和所述第二发射天线的发射波时处于电耦合量在理论上相同的状态;接收电路(5),所述接收电路从所述校准接收天线获取接收信号;以及控制电路(6),所述控制电路基于所述接收电路的所述接收信号的振幅来校准所述发射信号的相位,其中,所述接收电路的所述接收信号的所述振幅在所述第一集成电路和所述第二集成电路向所述第一发射天线和所述第二发射天线输出所述发射信号时响应于所述发射信号之间的相位差的变化而变化。
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