[发明专利]光谱量测系统、光谱量测装置、光学量测方法与光学校正方法

摘要

一种光学校正方法，用于供具有光输入部的光谱量测装置执行。首先，通过光输入部量测多道窄频光，以分别取得多笔窄频光谱脉冲响应。之后，根据这些窄频光谱脉冲响应，建立杂散光资料库。根据杂散光资料库，产生修正程式。接着，从光输入部接收分光辐射标准光，并令修正程式被致能的光谱量测装置量测分光辐射标准光的光谱，以取得量测光谱资料。根据量测光谱资料与分光辐射标准光谱资料，产生校正系数程式，其能使量测光谱资料与分光辐射标准光谱资料匹配。

主权项

1.一种光学校正方法，适用于一光谱量测装置，其特征在于，该光谱量测装置包括一光输入部，该光学校正方法包括：该光谱量测装置通过该光输入部量测多道窄频光，以分别取得多笔窄频光谱脉冲响应；根据该些窄频光谱脉冲响应，建立一杂散光资料库，其中该杂散光资料库具有该光谱量测装置及其光输入部的杂散光资讯；根据该杂散光资料库，产生属于该光谱量测装置的一修正程式，其中该修正程式用以修正该光谱量测装置及其光输入部所产生的杂散光；在该修正程式被致能的状态下，该光谱量测装置通过该光输入部量测一分光辐射标准光，以取得经过该修正程式处理的一量测光谱资料；以及根据该量测光谱资料与一分光辐射标准光谱资料，产生属于该光谱量测装置的一校正系数程式，其中该校正系数程式使该量测光谱资料与该分光辐射标准光谱资料匹配，而该分光辐射标准光谱资料是由一标准光谱量测装置量测该分光辐射标准光而取得。