[发明专利]一种抑制矩形膜受拉产生褶皱的结构设计方法有效

专利信息
申请号: 201710035784.5 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106897491B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 李明;罗阳军;亢战;牛艳庄;赵腾飞 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06F30/13
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 梅洪玉;侯明远
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种抑制矩形膜受拉产生褶皱的结构设计方法,属于电子领域和航空航天领域。基于拓扑优化技术,以结构刚度最大化为优化目标,以矩形膜面内最小主应力的极小值大于零为优化应力约束,以矩形膜优化结构面积小于许用面积为优化面积,以膜单元密度值为设计变量,提出受拉无褶皱的最优构型。基于优化结果,提出膜受拉无皱的几何设计方案,给出几何设计方案关键参数的许用范围,有利于数字化CAD实现。本发明提出的膜最优设计,可有效抑制和消除膜在受拉时产生的褶皱,从而达到膜受拉无皱的目的。本发明只对膜结构形状进行修改,易于实现,无需辅助结构和额外控制,投入成本低且可操作性强。本发明提出的结构设计方案,能满足苛刻的膜表面光滑度要求。
搜索关键词: 一种 抑制 矩形 膜受拉 产生 褶皱 结构设计 方法
【主权项】:
一种抑制矩形膜受拉产生褶皱的结构设计方法,其特征在于,步骤如下:步骤S01:建立长细比大于1的矩形膜有限元模型,将长度方向的两边定义为自由边,宽度方向的两边定义为加载边;使用二维平面应力单元模拟矩形膜在承受沿长度方向1%拉伸应变时的应力状态,提取矩形膜的最小面内主应力的极小值;步骤S02:建立矩形膜拓扑优化模型,将整体薄膜定义为设计域Ωdes,设计域Ωdes包括材料域Ωm和非材料域Ωvoid,并满足Ωm∪Ωvoid=Ωdes和关系;优化目标为矩形膜刚度最大化,并同时满足应力约束和面积约束,应力约束为步骤S01中提取的矩形膜的最小面内主应力的极小值大于零,面积约束为优化后结构面积小于许用面积,优化变量为各单元密度;矩形膜拓扑优化模型的列式为maxχ(x)W(u)=∫ΓTt·udΓs.t.a(u,v)=l(v)∀v∈Uadmin(σmin,x)>0∀x∈ΩmA=∫Ωdesχ(x)dΩ≤A*χ(x)∈{0,1}x∈Ωdes---(3)]]>其中,W(u)为矩形膜结构刚度,t、u和v分别为作用于加载边界ΓT上的面力、位移场和许用虚位移;Uad为许用虚位移空间;a(u,v)和l(v)是能量双线性形式和载荷线性形式;min(σmin,x)>0为应力约束,其中min(σmin,x)为设计域Ωm中各单元x最小面内主应力的极小值,当此极小值大于零时,褶皱不会发生;为面积约束,A为设计域Ωm中材料域Ωdes的面积,A*为设计域Ωm中材料域Ωdes的许用面积;χ(x)∈{0,1}x∈Ωdes为表征设计域Ωm中材料域Ωm和非材料域Ωvoid的关系,当χ(x)=1代表当前单元为材料域Ωm,当χ(x)=0代表当前单元为非材料域Ωvoid;步骤S03:拓扑优化得到薄膜受拉无褶皱对应的最优构型,提取出优化构型中材料域的几何特征,并采用有限元仿真模拟计算,获得各几何特征使得薄膜拉伸无褶皱的临界值;材料域的几何特征有三种方案:设定自由边形状为整体对称内凹曲线、减小加载边的长度和设定加载边形状为局部对称内凹曲线,对于优化膜结构的边界几何特征,采用上述三种方案中的一种或它们之间的任意组合。
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