[发明专利]一种MEMS晶圆切割清洗及释放方法在审

专利信息
申请号: 201710037831.X 申请日: 2017-01-19
公开(公告)号: CN106629582A 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 杨水长;陈文礼;牟晓宇;孙传彬;曲婷 申请(专利权)人: 烟台睿创微纳技术股份有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81C99/00
代理公司: 烟台上禾知识产权代理事务所(普通合伙)37234 代理人: 刘志毅
地址: 264000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种MEMS晶圆切割清洗及释放方法,包括以下步骤贴UV膜,将晶圆正面朝下放置在贴膜机中间悬空的真空吸盘正中央;切割,采用台阶切割,两步切割连续完成,前切刀片切割的厚度为晶圆总厚度的20%~60%,后切刀片将晶圆划透;清洗和甩干,将固定在锈钢框架上的晶圆整体放在可旋转的陶瓷密孔吸盘上,陶瓷密孔吸盘固定不锈钢框架的四周,陶瓷密孔吸盘上方设有喷液系统,喷液系统包含若干个可左右摆动喷洒溶液的喷头,喷头喷洒液体清洗晶圆,陶瓷密孔吸盘高速旋转,将废液甩出;照射;对晶圆进行扩膜;利用芯片拾取设备将芯片从UV膜取下放入托盘中;把托盘放在去胶机设备中,进行结构释放。不需要两次对位,保证了两次切割位置的精准性。
搜索关键词: 一种 mems 切割 清洗 释放 方法
【主权项】:
一种MEMS晶圆切割清洗及释放方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:贴UV膜,将晶圆正面朝下放置在贴膜机吸盘正中央,所述吸盘为中间悬空的真空吸盘,UV膜外周固定在不锈钢框架上;步骤2:切割,采用台阶切割,两步切割连续完成,沿切割方向上设有两个对齐的切刀片,两个切刀片连续切割;前切刀片先切割晶圆,后切刀片后切割晶圆,前切刀片切割的厚度为晶圆总厚度的20%~60%,后切刀片将晶圆划透,且不划透所述UV膜,切割的进刀速度3~30mm/s,前后切刀片的厚度为30~60μm,两次切割后,晶圆全划透,切割成单个芯片;步骤3:清洗和甩干晶圆;步骤4:照射,使用UV照射机,对晶圆背面的UV膜进行照射30~100s,调节UV灯管能量在120~360mJ/cm2之间,可将UV膜的粘性降到以前的1~10%;步骤5:利用扩膜机对晶圆进行扩膜处理,使所有芯片向四周均匀扩开;步骤6:利用芯片拾取设备,将芯片从UV膜取下放入专门MEMS释放石英托盘中;步骤7:把托盘放在去胶机设备中,进行结构释放。
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