[发明专利]堆叠式存储器芯片的短路检测器件及其方法有效
| 申请号： | 201710061506.7 | 申请日： | 2017-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN107015094B | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 尹元柱;姜锡龙;柳慧承;李贤义 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽;张婧 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种用于检测相邻微凸块之间的短路的方法和器件。所述方法包括：设置与微凸块相连的数据输出电路的上拉驱动器和下拉驱动器的输出以适于测试类型；以及确定是否生成短路。 | ||
| 搜索关键词： | 堆叠 存储器 芯片 短路 检测 器件 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种短路检测电路，包括：多个数据输入/输出垫片，每个数据输入/输出垫片连接至多个微凸块中的对应微凸块；多个数据输出电路，每个数据输出电路包括上拉驱动器和下拉驱动器，所述多个数据输出电路各自被配置为驱动所述多个数据输入/输出垫片中的对应数据输入/输出垫片；上拉驱动器输出控制电路，被配置为基于微凸块短路测试类型为所述多个数据输出电路中的每一个选择关断状态、弱接通状态和强接通状态中的一种状态作为与其相关联的所述上拉驱动器的输出；下拉驱动器输出控制电路，被配置为基于微凸块短路测试类型为所述多个数据输出电路中的每一个选择关断状态、弱接通状态和强接通状态中的一种状态作为与其相关联的所述下拉驱动器的输出；测试输入数据存储电路；以及测试输出数据存储电路。
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