[发明专利]检测方法及装置在审
| 申请号： | 201710062783.X | 申请日： | 2017-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN106841035A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 秦军;秦悦 | 申请（专利权）人： | 成都中信华瑞科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/27;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 唐维虎 |
| 地址： | 610000 四川省成都市天府*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种检测方法及装置，属于防伪检测技术领域。该检测方法包括获取基准成像光谱数据及待测物品表面的成像光谱数据；根据基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率；将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致；若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。本发明提供的检测方法及装置能够有效地鉴定物品的真伪，且滤除了外部环境光的变化以及系统光源的光谱变化对检测结果的影响，提高了检测结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取基准成像光谱数据及待测物品表面的成像光谱数据；根据所述基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率；将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致；若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。
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