[发明专利]检测二维材料的表面平整度的方法在审
| 申请号： | 201710068436.8 | 申请日： | 2017-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN108398117A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 赵鹏;黄永峰;孟胜 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30;G01N13/00 |
| 代理公司： | 北京市正见永申律师事务所 11497 | 代理人： | 黄小临;冯玉清 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及检测二维材料的表面平整度的方法。根据一示例性实施例，一种检测二维薄膜材料的表面平整度的方法，包括：在二维薄膜材料的表面上形成至少一个液滴；测量所述至少一个液滴的接触角；以及基于该接触角来检测该表面的平整度。 | ||
| 搜索关键词： | 表面平整度 二维薄膜材料 二维材料 接触角 液滴 检测 平整度 种检测 测量 | ||
【主权项】：
1.一种检测二维薄膜材料的表面平整度的方法，包括：在二维薄膜材料的表面上形成至少一个液滴；测量所述至少一个液滴的接触角；以及基于该接触角来检测该表面的平整度。
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