[发明专利]一种LED圆片挑坏点分选方法在审
| 申请号： | 201710069567.8 | 申请日： | 2017-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN106890802A | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 张广庚;陈立人;李庆 | 申请（专利权）人： | 聚灿光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/342;B07C5/36 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙)32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215123 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种LED圆片挑坏点分选方法，包括以下步骤1）提供待测试挑坏点圆片；2）针对圆片上的芯粒进行逐一检测；3）将测试结果为坏点的晶粒上打标记；4）在圆片表面贴附薄膜并使坏点晶粒通过标记与薄膜结合在一起；5）撕下薄膜以将坏点的晶粒从圆片分离。本发明的LED挑坏点圆片的分选方法，通过薄膜与坏点晶粒结合在一起一次性的将圆片上的坏点剔除，大大提高坏点剔除率及成功率，操作简便，节省人力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 圆片挑坏点 分选 方法 | ||
【主权项】：
一种LED圆片挑坏点分选方法，其特征在于，包括以下步骤：1）提供待测试挑坏点圆片；2）针对圆片上的芯粒进行逐一检测；3）将测试结果为坏点的晶粒上打标记；4）在圆片表面贴附薄膜并使坏点晶粒通过标记与薄膜结合在一起；5）撕下薄膜以将坏点的晶粒从圆片分离。
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