[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201710073456.4 申请日: 2017-02-10
公开(公告)号: CN107768438B 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 林立凡;杨竣杰 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335;H01L29/423
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 周滨;章侃铱
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体装置包含主动层、源极电极、漏极电极、栅极电极、第一绝缘层、栅极金属层、贯穿结构、第一源极金属层、漏极金属层与第二源极金属层。源极电极、漏极电极与栅极电极置于主动层上。栅极电极置于源极电极与漏极电极之间。第一绝缘层置于源极电极、漏极电极与栅极电极上。栅极金属层置于栅极电极与第一绝缘层上。栅极金属层包含窄部与宽部。贯穿结构置于栅极金属层与栅极电极之间。第一源极金属层置于源极电极与第一绝缘层上。漏极金属层置于漏极电极与第一绝缘层上。第二源极金属层置于栅极金属层与漏极金属层之间。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,包含:一主动层;至少一源极电极与至少一漏极电极,置于该主动层上;至少一栅极电极,置于该主动层上以及该源极电极与该漏极电极之间;一第一绝缘层,置于该源极电极、该漏极电极与该栅极电极上;至少一栅极金属层,置于该栅极电极与该第一绝缘层上,其中该栅极金属层包含至少一窄部与至少一宽部;至少一贯穿结构,置于该栅极金属层与该栅极电极之间;至少一第一源极金属层,置于该源极电极与该第一绝缘层上;至少一漏极金属层,置于该漏极电极与该第一绝缘层上;以及至少一第二源极金属层,置于该第一绝缘层上以及该栅极金属层与该漏极金属层之间。
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