[发明专利]获取存储器物理不可克隆函数的方法和系统在审
| 申请号： | 201710074047.6 | 申请日： | 2017-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN108415662A | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 王韬 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 高伟;卜璐璐 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种获取存储器物理不可克隆函数的方法和系统，所述方法包括：在各种环境参数下对存储器进行上电，并统计所述存储器的每个存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值；基于所述统计的结果确定所述每个存储单元的统计特征值；以及基于所述每个存储单元的单元地址及其统计特征值生成所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列。本发明所提供的获取存储器物理不可克隆函数的方法和系统将构成PUF的存储器的全部寻址空间均作为构成特征值的组成部分，最终输出的PUF特征值具有统计意义，不仅可以生成更准确的PUF特征值，还可以降低用于加密时被破解的风险。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 存储器物理 存储单元 统计 环境参数 克隆 物理不可克隆函数 特征值序列 单元地址 结果确定 全部寻址 破解 上电 加密 输出 | ||
【主权项】：
1.一种获取存储器物理不可克隆函数的方法，其特征在于，所述方法包括：在各种环境参数下对存储器进行上电，并统计所述存储器的每个存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值；基于所述统计的结果确定所述每个存储单元的统计特征值；以及基于所述每个存储单元的单元地址及其统计特征值生成所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列。
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