[发明专利]显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法

摘要

本发明提供了显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法，显示器件包括：一背板；一有机发光材料，形成于背板的第一侧；一第一电极，形成于背板的第一侧，第一电极的图案为环形，第一电极环绕有机发光材料；一封装薄膜，形成于有机发光材料远离背板的一侧，封装薄膜与背板密封有机发光材料和第一电极；以及一第二电极，形成于封装薄膜远离背板的一侧，第二电极与第一电极在背板上的投影具有重叠区域。本发明通过在封装薄膜容易破裂的区域的上表面和下表面分别设计第一电极和第二电极，能够在不刺破封装薄膜的前提下，及时检测薄膜封装的完整性，没有增加额外制程，而且简单易操作。

主权项

1.一种显示器件，其特征在于，包括：一背板；一有机发光材料，形成于所述背板的第一侧；一第一电极，形成于所述背板的第一侧，所述第一电极的图案为环形，所述第一电极环绕所述有机发光材料；一封装薄膜，形成于所述有机发光材料远离所述背板的一侧，所述封装薄膜与所述背板密封所述有机发光材料和第一电极；以及一第二电极，形成于所述封装薄膜远离所述背板的一侧，所述第二电极与所述第一电极在所述背板上的投影具有重叠区域。