[发明专利]磁共振成像方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710101640.5 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN106772168B 公开(公告)日: 2019-07-02
发明(设计)人: 史彩云;谢国喜;苏适;张晓咏;刘新 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G01R33/561 分类号: G01R33/561
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 阳开亮
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于磁共振技术领域,提供一种磁共振成像方法及装置。该方法包括:建立多通道线圈并行采集的快速自旋回波正对比的磁共振成像序列采集模型;根据磁化率图和结构图像建立联合估计模型;根据所述联合估计模型,并结合根据所述磁共振成像序列采集模型采集磁共振数据,对磁共振图像进行重建。并结合根据所述磁共振成像序列采集模型采集磁共振数据,对磁共振图像进行重建。上述方法能清晰的识别介入装置与周围组织的位置关系,评估支架装置官腔情况,成像分辨率较高,成像速度较快,信噪比较高。
搜索关键词: 磁共振 成像 方法 装置
【主权项】:
1.一种磁共振成像方法,其特征在于,包括:建立多通道线圈并行采集的快速自旋回波正对比的磁共振成像序列采集模型;根据磁化率图和结构图像建立联合估计模型;根据所述联合估计模型,并结合根据所述磁共振成像序列采集模型采集磁共振数据,对磁共振图像进行重建;所述对磁共振图像进行重建具体包括:通过定量磁敏感成像方法对磁共振图像进行重建,得到包含金属介入装置正对比度图像的图像;所述通过定量磁敏感成像方法对磁共振图像进行重建包括:通过定量磁敏感成像方法对磁共振图像进行重建,得出重建模型为:其中,ρ1和ρ2分别为梯度偏移预设时间之前和偏移所述预设时间之后的重建图像,P为欠采样矩阵,F为傅里叶变化算子,λ1和λ2为重建参数;根据所述重建模型对磁共振图像进行重建。
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