[发明专利]数据存储有效

专利信息
申请号: 201710106348.2 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN107122128B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 柯德克·丹尼斯·罗伯特·艾罗德;马克斯·约翰·巴特利;伊恩·米歇尔·考尔菲尔德;托马斯·爱德华·罗伯特 申请(专利权)人: ARM有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 林强
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及数据存储。数据存储装置包括被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测电路,测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合,检测电路包括:比较器,被配置为作为第一比较将参考存储器地址的位中的第一子集与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的位中的对应第一子集的组合进行比较;比较器被配置为作为第二比较将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较;检测器,被配置为当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测;以及控制电路,被配置为当匹配被检测器检测到时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。
搜索关键词: 数据 存储
【主权项】:
一种数据存储装置,包括:检测电路,用于检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配,所述测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合,所述检测电路包括:比较器,用于作为第一比较,将所述参考存储器地址的多个位中的第一子集与所述基地址的多个位中的对应第一子集和所述地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较;所述比较器被配置为作为第二比较,将所述参考存储器地址的多个位中的第二不同子集与所述基地址的多个位中的对应第二子集进行比较;检测器,用于当所述第一比较和所述第二比较二者均检测到相应的匹配时对所述参考存储器地址与所述测试地址之间的匹配进行检测;以及控制电路,用于当匹配被所述检测器检测到时,依据所述参考存储器地址控制所述数据存储装置的操作。
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