[发明专利]一种电感式位移传感器的干扰消除方法有效
申请号: | 201710115059.9 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN106767952B | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 邵志标;郭一欣 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01D5/20 | 分类号: | G01D5/20;G01B7/02 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种电感式位移传感器的干扰消除方法,是在降低维度优化的IPS查表算法基础上新增若干采样点,作为干扰校验点;通过分析干扰校验点的分布范围和一致性,检测系统采样数据是否由于干扰而出现差错;本发明通过增加干扰校验点数,检出干扰的概率理论上无限接近100%。可结合现场干扰特征,根据干扰检出概率的需求灵活地设置干扰校验点数。干扰检出功能的时间复杂度和空间复杂度是一维增长的,开销小。通过改进原有标定流程,在一次标定中得到与干扰校验点对应的所有高低温查找表,无需新增生产标定流程。通过优化干扰校验点的采样时刻可以针对性地强化干扰剔除机制对特定类型干扰的检出概率,由此增加了系统对特定已知频率干扰的抗干扰能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 电感 位移 传感器 干扰 消除 方法 | ||
【主权项】:
1.一种电感式位移传感器的干扰消除方法,其特征在于,在降低维度优化的IPS查表算法基础上新增若干采样点,作为干扰校验点;通过分析干扰校验点的分布范围和一致性,检测系统采样数据是否由于干扰而出现差错;包括如下步骤:1)新增t2时刻干扰校验点:t2时刻时为放电电压接近终点电压的时刻;在t2时刻附近新增若干采样点,用于筛查该采样的可靠性,并用于建立干扰校验点查找表;2)新增t1时刻干扰校验点:t1时刻为放电电压变化过程中的时刻;在t1时刻附近新增若干采样点,用于筛查该采样的可靠性,并用于建立干扰校验点查找表;3)计算干扰校验点查找表:通过标定,一次性生成所有与t1时刻干扰校验点相对应的高低温查找曲线;通过计算得到相应的算子查找表,写入IPS内;4)计算冗余接近距离:IPS工作状态中,驱动线圈放电,控制ADC在所有干扰校验点时刻采样;将t1时刻干扰校验点上的采样值和符合筛选条件的t2时刻采样值作为输入,结合IPS内部存储的算子查找表计算得到临时查找表;将t1时刻干扰校验点的采样值与和相对应的临时查找表进行查找和计算,得到冗余接近距离;通过判断上述冗余接近距离是否满足一致性条件,决定是否将本次测量周期认为是干扰异常周期并从输出结果中剔除;5)干扰校验点的频率优化:结合工程现场的干扰频率,有针对性地调整干扰校验点的采样时间;能够增强系统对特定频率干扰的检出概率,从而完善系统抗干扰的频率覆盖范围。
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