[发明专利]一种GaN基发光二极管芯片的制备方法在审
申请号: | 201710115703.2 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN108511574A | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 林伟;闫宝华;刘琦;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人: | 王书刚 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,属于光电子技术领域,通过在p型GaN层的表面先刻蚀大台面结构,再生长电流阻挡层,然后经过光刻腐蚀电流阻挡层,蒸镀透明导电膜,光刻小台图形,生长SiO2钝化层,然后在钝化层上甩匀光刻胶、曝光和显影,制作出P型电极和N型电极结构图形,在经过干法刻蚀钝化层,之后再刻蚀掉不导电层。本发明通过O2等离子体轰击光刻胶,刻蚀后不去胶,通过离子体轰击光刻胶的方法直接将大台图形轰击为小台图形,光刻大台和光刻小台步骤只需要甩一边胶、一次光刻即可,减少了光刻的步数,同时也避免了因为多一步光刻步骤而容易出现的过腐蚀、曝光异常等常见光刻异常,提高了产品良率。 | ||
搜索关键词: | 光刻 刻蚀 小台 电流阻挡层 钝化层 光刻胶 大台 制备 轰击 光电子技术领域 芯片 等离子体轰击 透明导电膜 产品良率 干法刻蚀 光刻腐蚀 结构图形 一次光刻 曝光 不导电 大台面 过腐蚀 离子体 再生长 步数 去胶 显影 匀光 蒸镀 生长 | ||
【主权项】:
1.一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,其特征是,包括如下步骤:(1)在GaN基发光二极管晶片的P型GaN层表面生长电流阻挡层;(2)在生长完电流阻挡层后的晶片上甩正性光刻胶,做出电流阻挡层图形后,去除表面残留光刻胶;(3)在带有电流阻挡层的晶片上蒸镀透明导电膜;(4)在透明导电膜上甩正性光刻胶,经过显影、曝光、腐蚀和坚膜后做出大台图形;(5)刻蚀晶片;(6)将刻蚀之后的晶片使用离子体进行轰击,将光刻胶的大台图形轰击为小台图形;(7)腐蚀掉小台图形外的透明导电膜;(8)去除光刻胶;(9)在晶片表面生长SiO2钝化层;(10)在生长了钝化层的晶片上甩负性光刻胶,通过曝光、显影和腐蚀光刻出电极图形,其中腐蚀步骤中将钝化层和电流阻挡层一起腐蚀。(11)蒸镀电极,蒸镀后通过剥离和清洗完成P电极和N电极的蒸镀。
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