[发明专利]工件测量系统和方法在审
申请号: | 201710118843.5 | 申请日: | 2017-03-01 |
公开(公告)号: | CN106643509A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 冯嘉杰;吕鑫 | 申请(专利权)人: | 宁波舜宇智能科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11538 | 代理人: | 陆鑫,延慧 |
地址: | 315400 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种工件测量系统和方法,其中,该系统包括激光位移传感器、运动机构、控制器以及上位机系统,其中运动机构在控制器的控制下驱动激光位移传感器运动;激光位移传感器用于在控制器的控制下进行测量,并将获得的测量数据发送给上位机系统;控制器用于接收输入的指令,根据指令确定工件上需要测量的位置,并且,控制器还用于根据位置,控制运动机构带动激光位移传感器运动,并控制激光位移传感器对工件的位置进行测量;上位机系统用于确定与预先选择的测量项目相对应的数据处理规则,并利用确定的数据处理规则对激光位移传感器采集的测量数据进行处理,得到测量结果。本发明能够避免采集到无效的测量数据,还能够降低测量成本。 | ||
搜索关键词: | 工件 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种工件测量系统,其特征在于,包括激光位移传感器、运动机构、控制器以及上位机系统,其中:所述运动机构在所述控制器的控制下驱动所述激光位移传感器运动;所述激光位移传感器用于在所述控制器的控制下进行测量,并将获得的测量数据发送给所述上位机系统;所述控制器用于接收输入的指令,根据所述指令确定工件上需要测量的位置,并且,所述控制器还用于根据所述位置,控制所述运动机构带动所述激光位移传感器运动,并控制所述激光位移传感器对所述工件的所述位置进行测量;所述上位机系统用于确定与预先选择的测量项目相对应的数据处理规则,并利用确定的所述数据处理规则对所述激光位移传感器采集的所述测量数据进行处理,得到测量结果。
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