[发明专利]存储器装置及其压力测试方法有效
| 申请号： | 201710119680.2 | 申请日： | 2017-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN107633857B | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 陈毓明;洪希贤 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/10 | 分类号： | G11C7/10;G11C7/18;G11C8/14;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种包含存储器单元阵列和控制单元的存储器装置及其压力测试方法。所述存储器单元阵列包含：按行和列配置的多个存储器单元；在行方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应行的多个字线；以及在列方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应列的多个局部位线。所述控制单元经配置以进行：编程存储器单元的所述行中的所选行以具有数字状态的预定模式，基于所述预定模式将所述局部位线中的所选局部位线耦合到全局位线且将所述局部位线中的非选局部位线耦合到接地，将压力电压施加到所述全局位线，且在预定时间段之后感测存储器单元的所述所选行的数字状态。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 及其 压力 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器装置，其特征在于，包括存储器单元阵列以及控制单元，所述存储器单元阵列，包含：多个存储器单元，按行和列配置；多个字线，在行方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应行；以及多个局部位线，在列方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应列，所述控制单元经配置以进行：编程所述存储器单元的所述行中的所选行以具有数字状态的预定模式；基于所述预定模式将所述局部位线中的所选局部位线耦合到全局位线且将所述局部位线中的非选局部位线耦合到接地；将压力电压施加到所述全局位线；以及在一预定时间之后，感测所述存储器单元的所述所选行的数字状态。
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