[发明专利]利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法在审
| 申请号： | 201710119876.1 | 申请日： | 2017-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN106918610A | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 龙翔;刘建良;李金苑;江书安;蒋永金;王若泽;崔庆雄;李明;陈艳琼;丁锐;潘梅;李进莲 | 申请（专利权）人： | 云南冶金新立钛业有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 赵天月 |
| 地址： | 650199 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，该方法包括(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 射线 荧光 光谱分析 钛白粉 tio2 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，其特征在于，包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。
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