[发明专利]半导体装置和存储器访问控制方法

摘要

本发明涉及一种半导体装置和存储器访问控制方法，旨在检测地址信号系统在存储器访问中的故障。根据本发明的半导体装置包括地址转换电路，基于用于存储数据的第一地址来生成用于将错误检测代码存储在存储器中的第二地址；写入电路，将数据写入第一地址并且将错误检测代码写入第二地址；和读取电路，读取来自第一地址的数据，读取来自第二地址的错误检测代码，并且基于数据和错误检测代码来检测错误。地址转换电路通过修改第一地址的至少一个位的值，以使错误检测代码的存储位置偏移到所述数据的存储位置，并且通过使其它位当中的规定的数量的位的值反转或者使规定的数量的位的顺序重排，来生成地址作为第二地址。

主权项

一种半导体装置，包括：地址转换电路，所述地址转换电路基于用于将数据存储在存储器中的第一地址，来生成用于存储由所述数据生成的错误检测代码的第二地址；写入电路，所述写入电路在请求将所述数据写入所述第一地址时将所述数据写入所述第一地址，并且所述写入电路将所述错误检测代码写入所述第二地址；以及读取电路，所述读取电路在请求读取存储在所述第一地址的所述数据时从所述第一地址读取所述数据，并且所述读取电路从所述第二地址读取所述错误检测代码并且基于有关的所述数据和有关的所述错误检测代码来检测错误，其中，所述地址转换电路通过修改所述第一地址的至少一个位的值，以使所述错误检测代码的存储位置偏移到所述数据的存储位置，并且通过使其它位当中的规定的数量的位的值反转或者使其它位当中的规定的数量的位的顺序重排，来生成地址作为所述第二地址。