[发明专利]混响室条件下辐射敏感度测试方法及装置

摘要

本发明适用于电磁技术领域，提供了一种混响室条件下的辐射敏感度测试方法及装置。该方法包括：测量混响室中多个搅拌位置下受测设备受到干扰的次数和场强的直角分量，并根据受测设备受到干扰的次数和场强直角分量，计算干扰概率和参数σ；根据测试频率和所述受测设备的尺寸计算波数和能够包含受测设备的最小球体的半径，并根据所述波数和半径得出受测设备的方向性系数最大值；根据参数σ、干扰频率和方向性系数最大值，结合预设模型得出受测设备的临界辐射干扰场强。该方法能够解决混响室中受测设备的辐射敏感度测试结果与均匀场相关性较差的问题，尤其适用于复杂的电大尺寸设备，为混响室条件下设备的辐射敏感度测试提供新的思路。

主权项

1.一种混响室条件下辐射敏感度测试方法，其特征在于，包括：测量混响室中多个搅拌位置下受测设备受到干扰的次数和场强的直角分量，并根据所述受测设备受到干扰的次数和场强直角分量，计算干扰概率P和参数σ；根据测试频率和所述受测设备的尺寸计算波数和包含所述受测设备的最小球体的半径，并根据所述波数和半径得出所述受测设备的方向性系数最大值；根据所述参数σ、所述干扰概率P和所述方向性系数最大值，结合预设模型得出所述受测设备的临界辐射干扰场强；计算参数σ和干扰概率P的过程为：混响室中任意一点场强直角分量的幅值服从瑞利分布，对于x方向，其概率分布函数为：其中，σ²为混响室内场强平方的均值的1/6，设第i个搅拌位置混响室测试区域内一点场强x方向分量为E_xi，则参数σ的最大似然估计为：若N个搅拌位置中受测设备受到N_s次干扰，则干扰概率P的估计值为：所述根据所述波数和半径得出所述受测设备的方向性系数最大值的过程为：所述受测设备的方向性系数D的概率分布函数为：F_D(d)＝1‑(1+2d)e^‑2d,d>0，对应的概率密度函数为：f_D(d)＝4de^‑2d,d>0；将所述受测设备的方向性系数最大值的期望作为D_max的估计值，D_max为：其中，N_I为受测设备作为辐射体时辐射场中相互独立的电磁波模式数，等于设备作为被辐射物体时相互独立的辐照方向个数，k为波数，a为包含受测设备的最小球体的半径，表示取不大于ka的最大整数；所述受测设备的临界辐射干扰场强为：