[发明专利]石墨烯层的形成方法在审
申请号: | 201710130750.4 | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN107797378A | 公开(公告)日: | 2018-03-13 |
发明(设计)人: | 涂志强;陈俊郎;蔡嘉雄;游秋山;张宗裕;林志诚;刘丙寅;李信昌;林云跃 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/62 | 分类号: | G03F1/62 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司32243 | 代理人: | 顾伯兴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种石墨烯层的形成方法包括在第一衬底之上沉积第一材料层;以及在所述第一材料层之上沉积石墨烯层。所述方法还包括在所述石墨烯层之上沉积非晶硅层;以及将所述非晶硅层结合至第二衬底,从而形成组件。所述方法还包括使所述组件退火,从而将所述非晶硅层转变成氧化硅层。所述石墨烯层的形成方法还包括自所述组件移除所述第一衬底;以及自所述组件移除所述第一材料层,从而暴露出所述石墨烯层。 | ||
搜索关键词: | 石墨 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种石墨烯层的形成方法,其特征在于,包括:在第一衬底之上沉积第一材料层;在所述第一材料层之上沉积石墨烯层;在所述石墨烯层之上沉积非晶硅层;将所述非晶硅层结合至第二衬底,从而形成组件;使所述组件退火,从而将所述非晶硅层转变成氧化硅层;自所述组件移除所述第一衬底;以及自所述组件移除所述第一材料层,从而暴露出所述石墨烯层。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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