[发明专利]一种超薄硅的化学切割方法有效
申请号: | 201710135467.0 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN107039241B | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 李绍元;马文会;于洁;万小涵;杨春曦;杨佳;魏奎先;雷云;吕国强;谢克强;伍继君;杨斌;戴永年 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;B28D5/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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摘要: | 本发明公开一种超薄硅的化学切割方法,属于材料加工技术领域。本发明所述方法主要是通过借助金属丝线(Au、Pt、Ag、Pd)的催化作用,通过在金属丝线与硅锭之间形成的原电池反应,在化学刻蚀液的作用下,实现金属丝线下方硅料的不断溶解,从而实现硅料的化学切割,与传统物理切割(砂浆切割、金刚线切割)相比,该方法无需外界大型动力设备;贵金属丝线起到的是催化原电池反应的作用,切割过程中不会对其造成损耗;丝线极细,能够实现超薄硅片切割(<30μm)的能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 超薄 化学 切割 方法 | ||
【主权项】:
1.一种超薄硅的化学切割方法,其特征在于,具体包括以下步骤:(1)硅锭清洗,去除硅锭表面油污,备用;(2)金属丝线细化、活化处理:采用稀硝酸溶液对金属丝线进行浸泡处理,完成对金属丝线的细化、活化,所述金属丝线为Au、Pt、Ag或Pd;(3)刻蚀液配置:选取氢氟酸或氟化铵与氧化剂混合形成刻蚀液;所述刻蚀液中加入异丙醇或乙醇以改善其切割速度和均匀性;(4)硅锭化学切割:将金属丝线悬空固定在刻蚀槽中,将清洗后的硅锭置于金属丝线上方,将步骤(3)配置好的刻蚀液倒入刻蚀槽中,并将硅锭及金属丝线完全浸没,以实现金属丝线催化的硅锭化学切割;(5)硅片后处理:将切割后的薄片浸泡于碱性溶液中,或者浸泡于HF与氧化剂的混合溶液中进行表面处理,混合溶液中HF的质量百分比浓度为1%~50%,氧化剂的质量百分比浓度为5%~45%,然后采用大量去离子水冲洗、吹干即可,所述氧化剂为H2O2、HNO3、Fe(NO3)3、KMnO4、 KBrO3、K2Cr2O7、 Na2S2O8中的一种。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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