[发明专利]使用辐射的物体的金属可靠性检测在审

专利信息
申请号: 201710137275.3 申请日: 2013-02-01
公开(公告)号: CN107102018A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: S.皮奥雷克;S.I.谢夫斯基;M.E.杜加斯 申请(专利权)人: 赛默科技便携式分析仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 周学斌,刘春元
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及使用辐射的物体的金属可靠性检测。此处公开的技术包括用于识别假冒金制珠宝和其他假冒金制物品的系统和方法。技术包括使用非破坏性机制来确定感兴趣的物品(诸如表示为真金的制品)是足金物体还是镀金物体。技术包括使用X射线荧光(XRF)分析仪来将真金与镀金进行区分。该XRF分析仪可通过比较金的L‑alpha和L‑beta x射线谱线的比值,来在镀金和大块金材料之间进行辨别。该分析仪使用X射线荧光(XRF)光谱学来测量金的特性L谱线的强度的比值。当使用XRF分析仪来实现时,该系统非破坏性地确定测试物体是由足金/金合金制成的还是只具有镀金。
搜索关键词: 使用 辐射 物体 金属 可靠性 检测
【主权项】:
一种方法,包括:将x射线激励射束引导至感兴趣的物品的至少一部分上,该x射线激励射束使感兴趣的物品荧光性发出各种能量下的x射线;测量对应于金的第一能量的强度,根据从感兴趣的物品荧光性发出的x射线来识别该第一能量;测量对应于金的第二能量的强度,根据从感兴趣的物品荧光性发出的x射线来识别该第二能量;计算第一能量的强度和第二能量的强度之间的所测量的强度的比值;以及响应于识别所计算的比值大于预定值,产生感兴趣的物品是镀金的指示。
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