[发明专利]一种芯片的封装方法有效
申请号: | 201710137582.1 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN106876289B | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 李昭强;孙鹏;陈峰;张文奇 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/49;H01L21/60 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆;胡彬 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种芯片的封装方法,该芯片的封装方法包括:提提供一器件晶圆,器件晶圆的正面具有至少一个功能区和围绕功能区的至少一个布线区,布线区设置有多个焊盘;提供与所述至少一个功能区分别对应设置的至少一个盖玻晶片,将盖玻晶片的正面与器件晶圆上的对应功能区键合;切割器件晶圆以形成至少一个芯片。本发明实施例提供的芯片及其封装方法,盖玻晶片与对应的功能区实现了键合,则布线区的焊盘直接裸露在外,由此实现芯片气密性封装的同时利用晶圆级工艺实现晶圆级焊盘引出,无需采用TSV制程,降低了工艺复杂度和封装成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 及其 封装 方法 | ||
【主权项】:
1.一种芯片的封装方法,其特征在于,包括:提供一器件晶圆,所述器件晶圆的正面具有至少一个功能区和围绕所述功能区的至少一个布线区,所述布线区设置有多个焊盘;提供与所述至少一个功能区分别对应设置的至少一个盖玻晶片,将所述盖玻晶片的正面与所述器件晶圆上的对应所述功能区键合;切割所述器件晶圆以形成至少一个芯片;其中,提供与所述至少一个功能区分别对应设置的至少一个盖玻晶片,将所述盖玻晶片的正面与所述器件晶圆上的对应所述功能区键合,包括:提供一盖玻晶圆,所述盖玻晶圆的正面设置有至少一个第二凹槽;将所述器件晶圆的正面和所述盖玻晶圆的正面键合,以使所述至少一个第二凹槽在垂直于所述器件晶圆方向上的投影覆盖所述多个焊盘且不与所述功能区交叠;减薄所述盖玻晶圆的背面至所述第二凹槽的槽底以形成至少一个所述盖玻晶片,使所述盖玻晶片的正面与所述器件晶圆上的对应所述功能区键合且所述多个焊盘裸露。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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