[发明专利]基于光学测微原理的高精度量尺在审
| 申请号： | 201710146901.5 | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108020166A | 公开（公告）日： | 2018-05-11 |
| 发明（设计）人： | 廖孟光;李羲;李朝奎;易四海 | 申请（专利权）人： | 湖南科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08;G01B11/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 411201 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于光学测微原理的高精度量尺，所要解决的问题是如何精确测量隧道、桥洞、房屋、车辆、大型仪器等内外径尺寸。该量尺基于光学测微原理的高精度量尺，包括若干短尺和光学测微器，短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体，光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上，对准横截面较小的短尺上的刻度，量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端，垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。伸开量尺，使其内测端抵住空间内壁或者外测端夹住物体外径，因此量尺长度严格为两端点之间距离，同时光学测微器精度很高，共同保证了测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光学 原理 高精度 | ||
【主权项】：
1.基于光学测微原理的高精度量尺，其特征为包括若干短尺和光学测微器，短尺按其横截面大小共轴地串接成一伸缩体，光学测微器安装在两段短尺连接处横截面较大的短尺上，对准横截面较小的短尺上的刻度，量尺两端平行轴线方向各具有长度一定的内测端，垂直轴线方向各具有长度一定的外测端。
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