[发明专利]全偏振测量显微镜有效
申请号: | 201710147924.8 | 申请日: | 2017-03-13 |
公开(公告)号: | CN108572143B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | 曹奇志;张晶;赵银军;李建映;邓婷;樊东鑫;王华华 | 申请(专利权)人: | 南宁师范大学 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人: | 靳浩 |
地址: | 530023 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | 本发明公开了一种全偏振测量显微镜,其特征在于,包括沿入射光方向依次设置的准直透镜、滤波片、物镜、偏振调制组合、成像镜以及CCD相机,待测样品设置在所述滤波片和所述物镜之间,所述物镜和成像镜具有放大倍数;其中,所述偏振调制组合包括沿入射光方向依次设置的第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜以及偏振片。本发明采用静态的偏振调制组合替代光电调制系统或者旋转系统,只需一次测量,便可获取目标全部的偏振信息。 | ||
搜索关键词: | 偏振 测量 显微镜 | ||
【主权项】:
1.一种全偏振测量显微镜,其特征在于,包括沿入射光方向依次设置的准直透镜、滤波片、物镜、偏振调制组合、成像镜以及CCD相机,待测样品设置在所述滤波片和所述物镜之间,所述物镜和成像镜具有放大倍数;其中,所述偏振调制组合包括沿入射光方向依次设置的第一改进型萨瓦偏光镜、半波片、第二改进型萨瓦偏光镜以及偏振片;光源发出的光通过准直透镜后变成入射方向为Z轴的平行光,所述平行光经过所述滤波片后变成窄带平行光照射到待测样品上,物镜收集穿过待测样品的透射光,所述透射光经过所述第一改进型萨瓦偏光镜后分解成入射方向分别为X轴和Y轴的两束等强度振动的、互相垂直的线偏振光,所述两束线偏振光穿过快轴方向为22.5°的半波片后偏振方向沿着顺时针方向旋转45°,再经过所述第二改进型萨瓦偏光镜后被分解成分别沿X轴和Y轴的等强度振动的四束线偏振光,经过偏振方向为与X轴正方向成22.5°的偏振片后,所述四束线偏振光的偏振方向取向均相同,所述四束线偏振光经过成像镜,即在CCD相机上形成干涉图像。
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