[发明专利]一种折射率分布测量的折光计有效
| 申请号： | 201710148080.9 | 申请日： | 2017-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108572160B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 夏珉;罗运;郭文平;陈俊尧;李微;杨克成 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 王世芳;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计，属于测量与光学领域，其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元，其中，光源单元用于产生平行光，光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小，还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元包括棱镜和透镜阵列，透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上，其用于接受来自光路调节单元的平行光束，棱镜的底面贴合于待测对象的界面上，图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑，能对折射率分布进行测量，测量精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 折射率 分布 测量 折光 | ||
【主权项】：
1.一种折射率分布测量的折光计，其特征在于，其包括：光源单元(1)，用于产生平行光，光路调节单元(2)，用于根据设定的测量范围调节所述平行光光束大小，还用于调节所述平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元，探测单元，其包括棱镜(4)和透镜阵列(3)，所述透镜阵列贴合设置在所述棱镜的一个侧面上，所述透镜阵列用于接受来自所述光路调节单元的平行光束，所述棱镜的底面贴合于待测对象(5)的界面上，图像采集及处理单元(6)，所述图像采集及处理单元用于接收从所述棱镜的另一个侧面出射的光斑，还用于对所述光斑进行图像处理，进而获得待测对象的折射率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学，未经华中科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710148080.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
