[发明专利]一种采样约束的圆检测方法有效

专利信息
申请号: 201710159942.8 申请日: 2017-03-17
公开(公告)号: CN107016702B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 陈树越;李建森;刘佳镔;朱军;黄萍 申请(专利权)人: 常州大学
主分类号: G06T7/64 分类号: G06T7/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213164 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及机器视觉领域,特别是关于一种采样约束的圆检测方法。在机器视觉领域中,圆的检测在自动化检测和仪器测量领域有着广泛的应用。一种采样约束的圆检测方法包括:首先,构造边缘点集合,随机采样一个点,然后取遍边缘集合中所有点,根据两个点确定的候选圆的参数判断圆的有效计数是否大于某个阈值,若是则该候选圆为真圆,否则为假圆。如果真圆的已知数目达到,表明检测圆成功,并停止对边缘集合点的选取,结束本次圆的检测;否则,继续采样,判断圆的数目是否达到要求。当采样的次数超过一定次数后,就停止最终的圆的检测,认定圆的检测结果失败。本发明与传统Hough变换圆检测方法相比,具有速度快、精度高的特点。
搜索关键词: 一种 采样 约束 检测 方法
【主权项】:
1.一种采样约束的圆检测方法,其特征在于:所述的圆检测步骤包括:步骤1:构造边缘点集D,循环次数初值k=0,其中D为对图像进行边缘检测后得到的点集;步骤2:从D中随机选取一个点d1(x1,y1);步骤3:从D中找到另一点d2(x2,y2),使d1与d2满足其中,Rmin为所求圆的半径最小值,Rmax为所求圆的半径最大值,并且以d1与d2这两点为直径端点确定圆参数pc(a,b,r),该圆的有效计数大于阈值Mt,直至点d2存在或D中点取完,其中,Mt为累计验证阈值,Mt=2πrT,T为比例;若点d2存在,转步骤5;否则,转步骤4;步骤4:k=k+1,若k>Kmax,则结束,其中,Kmax为采样次数阈值,其值为边缘点集D中点的个数;否则,转步骤2;步骤5:pc为真圆的参数,判断已检测到的圆是否已达到已知圆的数量,若是,转步骤6;否则,转步骤2;步骤6:对已检测出的真圆点进行模糊c均值聚类,求得圆的直径和圆心坐标参数。
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